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薄膜、樣品膜、光譜儀膜TF-115

簡要描述:美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其極低的(幾乎不含)雜質和厚度均勻而嚴格生產,*的柔韌性和抗化學腐蝕性,保證檢測結果的可靠性和重現性,被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。薄膜、樣品膜、光譜儀膜TF-115

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2024-05-15
  • 訪  問  量:1059

詳細介紹

 

mylar/聚丙烯膜、日本理學/島津/斯派克、EDX邁拉膜/XRF測試薄膜、美國Premier樣品膜-TF-115

   

  

      品名:XRF樣品膜Sample Film

      型號:TF-115

      品牌:美國Premier Lab (*)

      貨期:現貨

      起訂量:1盒以上。

   

美國Premier XRF樣品膜:

美國Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領域,以高質量和全面的X射線的樣品制備產品線享譽。

美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其極低的(幾乎不含)雜質和厚度均勻而嚴格生產,*的柔韌性和抗化學腐蝕性,保證檢測結果的可靠性和重現性,被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRFWD-XRFED-XRF)。

X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測,適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。

   

 

  

適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞SkyrayJordan ValleyARLAsomaKevexMetorexSiemensSpectracePhilipsFisons

 

 

 

 

目錄編號:

CAT. NO 薄膜材料       厚度       長度       數量       描述

 

TF-115     Mylar邁拉膜 1.5μ(0.06mil)      76mm x 91.4m      1/    Mylar®Rolls連續卷軸

 

 

 

薄膜、樣品膜、光譜儀膜TF-115

薄膜、樣品膜、光譜儀膜TF-115

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